УЛУЧШЕНИЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ДУГОВОГО АТОМНО-ЭМИССИОННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТРУДНОЛЕТУЧИХ ПРИМЕСЕЙ В ТУГОПЛАВКИХ МАТРИЦАХ В ПРИСУТСТВИИ ФТОРСОДЕРЖАЩИХ ДОБАВОК

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Доступ платный или только для подписчиков

Аннотация

Работа посвящена важной области дугового атомно-эмиссионного анализа, а именно: изучению влияния химически активных добавок на метрологические характеристики определения труднолетучих элементов в тугоплавких матрицах. Критически рассмотрен ряд научных результатов, опубликованных авторами статьи, в сравнении с литературными данными по изучению механизма действия этих добавок и их практическому использованию. Более чем 25-летний опыт и итог таких исследований, обобщение найденных закономерностей и преимуществ фторирующих агентов AlF3, AgF, BaF2, SrF2 и ZnF2 позволили сделать заключение об их универсальности в анализе тугоплавких матриц и целесообразности практического использования с точки зрения улучшения селективности, чувствительности и точности определений дугового атомно-эмиссионного анализа. Установлено, что наиболее эффективным фторирующим агентом при анализе всех исследованных матриц является фторид цинка. Его использование позволило снизить пределы определения труднолетучих элементов на 2–3 порядка по сравнению с результатами определения без добавки, а также улучшить сходимость и правильность результатов определений.

Об авторах

Н. И Золотарева

Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук

Email: zol@iptm.ru
Черноголовка, Россия

С. С Гражулене

Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук

Черноголовка, Россия

Список литературы

  1. Русанов А.К. Основы количественного анализа руд и минералов. М.: Недра, 1978. С. 158.
  2. Фришберг А.А. Повышение чувствительности определения при помощи химически активных носителей // Журн. прикл. спектроскопии. 1965. Т. 3. № 2. С. 187.
  3. Терек Т., Мика Й., Гезуш Э. Эмиссионный спектральный анализ. М.: Мир, 1982. Кн. 1. С. 233.
  4. Семенова А.А., Кузяков Ю.Я., Семененко К.А., Гаврилова Н.К. Влияние добавок хлоридов щелочноземельных элементов на спектральное определение титана циркония и гафния // Журн. аналит. химии.1979. Т. 34. № 11. С. 2145.
  5. Каракин А.В., Штепа Е.В. Влияние катиона добавки на интенсивность спектральных линий микроэлементов в атомно-эмиссионном спектральном анализе // Журн. прикл. спектроскопии. 1991. Т. 54. № 1. С. 18.
  6. Юделевич И.Г., Буянова Л.М., Шелиакова И.Р. Химико-спектральный анализ веществ высокой чистоты. Новосибирск: Наука, 1980. 223 с.
  7. Швангирадзе Р.Р., Высокова И.Л., Мозговая Т.А., Петрова О.А. Спектральное определение микропримесей в порошковых материалах // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 1972. Т. 38. № 4. С. 384.
  8. Лейкин С.В., Орлова В.А. Определение титана, циркония, молибдена и ванадия в высокочистом оксиде алюминия α-модификации // Высокочистые вещества. 1990. № 3. С. 189.
  9. Ильченко О.П., Золотоанидза Э.С. Атомно-эмиссионное спектрографическое определение микропримесей в монокристаллических подложках для ВТСП-пленок // Высокочистые вещества. 1992. № 4. С. 132.
  10. Домбровская М.А., Лисненко Д.Г., Шафар О.Ю. Определение гарниз в циркониевых материалах // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2019. Т. 85. № 1. Ч. II. С. 56.
  11. Домбровская М.А., Лисненко Д.Г., Пильмуллина Ч.Г., Кубрина Е.Д. Совершенствование атомно-эмиссионной методики анализа графитового коллектора // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2017. Т. 83. № 1. Ч. II. С. 51.
  12. Лисенко Д.Г., Домбровская М.А., Кубрина Е.Д. Синтез и испытания стандартного образца состава графитового коллектора микропримесей // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2017. Т. 83. № 1. Ч. II. С. 45.
  13. Верянин У.Д., Маширев В.П. Термодинамические свойства неорганических веществ. М.: Атомиздат, 1965. С. 54.
  14. ГОСТ 23463-79 Графит порошковый особой чистоты. Технические условия. М.: Издательство стандартов. 1991. 9 с.
  15. Виргиева Ю.С. Примеси в реакторном графите и его работоспособность // Атомная энергия. 1998. Т. 84. № 1. С. 7.
  16. Баджикова И.И., Пименов В.Г. Определение примесей в оптической керамике и ее прекурсорах методами атомной спектрометрии // Вестн. Нижегор. ун-та им. Н.И. Лобачевского. 2013. № 4 (1). С. 98.
  17. Решетников Ф.Г. Разработка, производство и эксплуатация тепловыделяющих элементов энергетических реакторов. М.: Энергоиздат, 1995. Кн. 1. С. 126.
  18. Бурин Ж.П., Золотарева Н.И., Хвостиков В.А., Гражданск С.С. Фотоэлектрическая регистрация эмиссионных спектров на основе приборов с зарядовой связью // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2008. Т. 74. № 6. С. 26.
  19. Золотарева Н.И., Гражданск С.С. Использование химически активных добавок для повышения чувствительности определения редкоземельных элементов и тория дуговым атомно-эмиссионным методом. // Заводск. лаборатория. Диагностика материалов. 2011. Т. 77. № 9. С. 11.
  20. Золотарева Н.И., Гражданск С.С. Влияние химически активных добавок на характер испарения труднодетучих примесей при их дуговом атомно-эмиссионном определении в алюминии и его оксиде // Журн. аналит. химии. 2024. Т. 79. № 3. С. 237.
  21. Золотарева Н.И., Гражданск С.С. Поведение и фракционирование труднодетучих примесей в дуге постоянного тока при анализе циркония атомно-эмиссионным методом // Журн. аналит. химии. 2023. Т. 78. № 2. С. 144.
  22. Золотарева Н.И., Гражданск С.С. Исследование механизма испарения примесных элементов в дуговом атомно-эмиссионном анализе графитового порошка особой чистоты в присутствии фотосодержащих добавок // Журн. аналит. химии. 2025. Т. 80. № 1. С. 62.
  23. Зимберитен К.И. Спектральный анализ чистых веществ. Л.: Химия, 1971. С. 97.
  24. Чаньшева Т.А., Шеппакова И.Р. Унифицированный метод атомно-эмиссионного спектрального анализ объектов разной природы // Аналитика и контроль. 2002. Т. 6. № 3. С. 298.
  25. Экспериалова Л.П., Беликов К.Н., Химченко С.В., Бланк Т.А. Еще раз о пределах обнаружения и определения // Журн. аналит. химии. 2010. Т. 65. № 3. С. 229.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Российская академия наук, 2025